환경시험분석

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WALK-IN (ROOM) CHAMBER


항온, 항습, 저온, 에이징(Aging) 등 대형 챔버(Chamber)로 고객사양에 맞추어 제작이 가능한 설비

  • 설비사양
Description General specification
Temp. Range -40℃ ~ 80℃
Temp. Uniformity ±2℃
Humi. Range 30 ~ 95%
Humi. Distribution ±3%
Cooling Type 수냉식/공냉식
Applied Sample LCD / OLED / MOBILE PANEL / Etc

AGING CHAMBER


LCD/OLED module에 40-60 ℃ 고온 Aging을 실시하여 불량 및 품질특성을 선별 하기 위한 장비

  • 설비사양
Description General specification
Type Rack Type, Batch Type
Temp. Range 40℃ ~ 60℃
Temp. Uniformity ±3℃
Control Display Touch Panel / Manual Controller
Applied Sample LCD / OLED

THERMAL SHOCK TEST CHAMBER


온도 변화를 매우 짧게하여 시료의 급격한 온도 스트레스를 가하는, 시료의 온도환경 시험에 적합한 LAP 신뢰성 장비로, 반도체 등 중소형 전기·전자 부품과 소형·대형 LCD/OLED 등에 적용

  • 설비사양
Description General specification
Type 3Zone Damper Type / 2Zone Elevator Type
Temp. Range -60℃ ~ 150℃
Temp. rising/falling time MIN ~ MAX , With in 5,10,15min
Temp. Uniformity ±5℃
Cooling Type 수냉식/공냉식
Applied Sample Small sample / Semiconductor. Etc

TEMP & HUMID CHAMBER


LCD/OLED 모듈 등 시료의 온도·습도 환경시험 조건을 제공하는 신뢰성 장비로, LCD 판넬, 모바일 모듈, 반도체 등 중소형 전기·전자 부품에 적용 가능

  • 설비사양
Description General specification
Type 1 ZONE / 2 ZONE
Temp. Range -40℃ ~ 100℃
Temp. Rrising 1℃ / min (STANDARD)
Temp. Uniformity ±2℃
Humid. Range 30 ~ 98%
Humi. Rising 3% / min (STANDARD)
Humi. Distribution ±3%
Cooling Type 수냉식/공냉식
Applied Sample LCD / OLED / MOBILE PANEL / Etc

OVEN (BAKE, CLEAN, MULTI)


부품이나 모듈의 건조(Dry), 베이크(Bake), 큐어(Cure)등을 위한 장비로 고온으로 제품의 내구성과 신뢰성 시험 가능

  • 설비사양
Description General specification
Type 1Zone, 2Zone, 4Zone
Temp. Range 40℃ ~ 500℃
Temp. Uniformity ±2%
Applied Sample LCD / OLED/ 반도체, 전기 전자 등 생산현장
  • 제품문의
연락처 Tel : 031-267-5060, 5064
Fax : 031-377-7852, 7854
E-mail :  sales@susunggn.com
오시는길 경기도 화성시 방교동 824-2(동탄산단9길 9-7)