THERMAL SHOCK TEST CHAMBER

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온도 변화를 매우 짧게하여 시료의 급격한 온도 스트레스를 가하는, 시료의 온도환경 시험에 적합한 LAP 신뢰성 장비로, 반도체 등 중소형 전기·전자 부품과 소형·대형 LCD/OLED 등에 적용


  • 설비사양
Description General specification
Type 3Zone Damper Type / 2Zone Elevator Type
Temp. Range -60℃ ~ 150℃
Temp. rising/falling time MIN ~ MAX , With in 5,10,15min
Temp. Uniformity ±5℃
Cooling Type 수냉식/공냉식
Applied Sample Small sample / Semiconductor. Etc